材料的哪些性質(zhì)會(huì)影響掃描電鏡下的成像效果
2025-02-14 材料的物理和化學(xué)等諸多性質(zhì)都會(huì)影響掃描電鏡下的成像效果,以下是具體介紹:一、物理性質(zhì)1、導(dǎo)電性對(duì)于導(dǎo)電性良好的材料,如金屬,電子束轟擊材料表面產(chǎn)生的電荷能夠迅速傳導(dǎo)散逸,使電子束穩(wěn)定地與材料相互作用,從而獲得清晰、穩(wěn)定的圖像。而導(dǎo)電性差的材料,如陶瓷、高分子材料等,電子束照射后會(huì)在表面積累電荷,產(chǎn)生電荷積累效應(yīng),導(dǎo)致圖像出現(xiàn)畸變、模糊,甚至無(wú)法正常成像。2、表面形貌材料表面如果是平整光滑的,電子束在表面的散射和反射較為規(guī)則,二次電子和背散射電子的產(chǎn)生和發(fā)射也相對(duì)均勻,成像效果...中圖儀器祝您開(kāi)工大吉!這份儀器開(kāi)機(jī)指南請(qǐng)查收
2025-02-06 春節(jié)長(zhǎng)假已結(jié)束,迎來(lái)蛇年新的開(kāi)端,廣大客戶都已陸續(xù)開(kāi)工。中圖儀器為您準(zhǔn)備好了一份新春好禮--儀器開(kāi)機(jī)指南,讓我們做好準(zhǔn)備,和小編一起喚醒沉睡多天的儀器吧!三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)1.檢查實(shí)驗(yàn)室環(huán)境:干燥、清潔、無(wú)振動(dòng),溫濕度穩(wěn)定;2.檢查電源插頭是否插好,電源線是否有破損;3.使用無(wú)紡布和無(wú)shui酒精清潔導(dǎo)軌、標(biāo)準(zhǔn)球、測(cè)座及測(cè)針組,檢查控制柜過(guò)濾棉,進(jìn)行清洗或更換;4.打開(kāi)氣源開(kāi)關(guān),氣壓穩(wěn)定在0.6mpa,無(wú)油無(wú)水;5.打開(kāi)設(shè)備主機(jī)和電腦開(kāi)關(guān),開(kāi)機(jī)進(jìn)入測(cè)量軟件,儀器執(zhí)行初始化程序?;6...關(guān)于機(jī)床測(cè)頭常見(jiàn)的提問(wèn)及回答
2025-01-17 一、關(guān)于機(jī)床測(cè)頭功能方面提問(wèn)1:機(jī)床測(cè)頭有什么主要功能?回答:機(jī)床測(cè)頭主要有以下功能。首先,它可以用于零件的尺寸測(cè)量,在加工過(guò)程中或者加工完成后,精確測(cè)量工件的長(zhǎng)度、直徑、厚度等幾何尺寸,通過(guò)測(cè)量系統(tǒng)反饋的數(shù)據(jù)來(lái)判斷工件是否符合加工精度要求。例如,在汽車(chē)零部件加工中,機(jī)床測(cè)頭能夠測(cè)量發(fā)動(dòng)機(jī)缸體的孔徑精度,確?;钊c缸體之間的配合間隙在合理范圍內(nèi)。其次,機(jī)床測(cè)頭能夠進(jìn)行刀具的測(cè)量與檢測(cè)。它可以測(cè)量刀具的長(zhǎng)度、半徑等參數(shù),并且在刀具磨損后,通過(guò)檢測(cè)及時(shí)發(fā)現(xiàn)刀具的磨損情況,以便及時(shí)...關(guān)于臺(tái)階儀常見(jiàn)的提問(wèn)及回答
2025-01-17 一、關(guān)于臺(tái)階儀的基本原理提問(wèn):臺(tái)階儀是基于什么原理來(lái)測(cè)量樣品表面形貌的?回答:臺(tái)階儀主要是基于觸針式測(cè)量原理。它有一個(gè)非常精細(xì)的觸針,當(dāng)觸針在樣品表面移動(dòng)時(shí),樣品表面的微觀起伏會(huì)使觸針上下移動(dòng)。這種上下移動(dòng)通過(guò)機(jī)械、光學(xué)或者電學(xué)裝置被轉(zhuǎn)換為電信號(hào),然后經(jīng)過(guò)放大和處理,最終可以得到樣品表面形貌的信息。例如,對(duì)于一個(gè)有微小臺(tái)階的樣品,觸針在跨越臺(tái)階時(shí)會(huì)產(chǎn)生垂直方向的位移變化,系統(tǒng)記錄這個(gè)變化來(lái)描繪出臺(tái)階的高度等參數(shù)。二、關(guān)于臺(tái)階儀的測(cè)量精度提問(wèn):臺(tái)階儀的測(cè)量精度能達(dá)到多少?回答:...關(guān)于激光干涉儀的常見(jiàn)提問(wèn)及回答
2025-01-14 一、基本原理相關(guān)問(wèn)題1.激光干涉儀的工作原理是什么?-激光干涉儀主要是基于光的干涉原理。它通常使用氦-氖(He-Ne)激光器等作為光源,發(fā)出單一頻率的相干光。這束光被分光鏡分為兩束,一束作為參考光,另一束作為測(cè)量光。當(dāng)測(cè)量光遇到被測(cè)物體發(fā)生位移等變化時(shí),其光程會(huì)改變。然后兩束光(參考光和變化后的測(cè)量光)重新會(huì)合,由于光程差的存在,會(huì)產(chǎn)生干涉條紋。通過(guò)對(duì)干涉條紋的變化進(jìn)行分析,就可以精確地測(cè)量出位移、長(zhǎng)度、角度、平面度等物理量。例如,在測(cè)量線性位移時(shí),如果被測(cè)物體移動(dòng)了半個(gè)波長(zhǎng)...關(guān)注公眾號(hào),了解最新動(dòng)態(tài)
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